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2017.09.13検査機器

JAPAN PACK 2017 (日本国際包装機械展)に出展します

JAPAN PACK 2017 に出展します。
皆様のご来場をお待ちしています。

  • 展示会名 : JAPAN PACK 2017 (2017日本国際包装機械展)
  • 開催日時 : 2017年10月3日(火)~10月6日(金)
  • 展示会場 : 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 「東展示棟1~6ホール」
  • 展示小間 : 東2ホール 2J-07
  • 公式サイトトップページ: http://www.japanpack.jp/

【出展のみどころ】

    《 印刷品質検査装置 P-CAP V6 シリーズ 》                  
  • 「印刷品質検査装置」として、特に軟包装市場においてご好評をいただいている「P-CAPシリーズ」を一新した「P-CAP V6」を出展いたします。新製品は、自社開発した次世代の画像処理専用IC(大規模集積回路)を搭載し、鮮明な画像で安定した高性能検査を特長としております。

    《 印刷品質検査装置 P-CAP V6 シリーズ 》                  
  • 優れたコストパフォーマンス    
  • コンパクトで柔軟性に富んだシステム構造    
  • 欠点を見逃さない最適な照明構造  
  • 微妙な濃度差も高精度に検出  
  • 個別の欠点情報、全欠点の画面情報、マップ情報などの検査結果を出力  
  • 工場内LANに接続することで、別環境での欠点情報表示や解析が可能

                                                 展示ブースイメージ

● 展示会に対する問い合わせ ●
〒144-8551 東京都大田区南蒲田 2-16-46
東京計器株式会社 検査機器システムカンパニー
電話 03-5710-3291 FAX 03-3732-2077
※ここに掲載されている内容は、公開した時点での情報に基づいています。
社名、所属、連絡先、仕様などが変更されている場合があります。