本文へスキップします。

【全:日】ロゴ
【全:日】ヘッタリンク
  • 標準
【全:日】サイト内検索
【全:日】多言語リンク
H1

お知らせ

【お知らせ:カテゴリーメニュー】
【日:タブ】お知らせ

2021.02.08お知らせ

TOKYO PACK2021に出展します。

皆様のご来場をお待ちしています。

  • 展示会名 : TOKYO PACK 2021
  • 開催日時 : 2021年2月24日(水)~2月26日(金)
  • 展示会場 : 東京ビッグサイト
  • 展示小間 : W4-29(西ホール)
  • 公式サイトトップページ: https://www.tokyo-pack.jp/

出展の見どころ
軟包装市場においてご好評をいただいている「印刷品質検査装置P-CAP V6」を出展いたします。また、カメラ・検査回路を刷新して新規開発した「無地検査装置M-CAP V2」を参考出展いたします。信頼性の高い安定した検査性能を会場でぜひお確かめください。

《 印刷品質検査装置 P-CAP V6 シリーズ 》
  • 優れたコストパフォーマンス
  • コンパクトで柔軟性に富んだシステム構造
  • 欠点を見逃さない最適な照明構造
  • 微妙な濃度差も高精度に検出
  • 個別の欠点情報、全欠点の画面情報、マップ情報などの検査結果を出力
  • 工場内LANに接続することで、別環境での欠点情報表示や解析が可能

《 素材検査装置M-CAP V2シリーズ 》
  • 従来の4倍高速となる160MHzモノクロカメラ搭載で高速でも微小欠点検出
  • 自社開発LED搭載でフィッシュアイと黒点の選別が可能
  • 粗さが目立つ拡大された欠点画像を超解像技術で鮮明化
  • 線状欠点検出回路標準搭載でシワ・膜割れ・毛髪・糸くず等の線状欠陥の検出を強化
  • 淡欠点検出回路標準搭載で面積の大きい薄汚れ・ムラの検出を強化
  • 専用検出回路により片面8台カメラ構成、両面4+4台カメラ構成が可能
  • 検査幅自動追従機能搭載
  • 列毎・短距離毎のサイズ別欠陥数リアルタイム集計
  • データのPDFファイル出力でペーパーレス化

 展示ブースイメージ